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Révolutionnez votre analyse de surface avec un spectromètre à fibre optique pour la mesure de l'épaisseur du film

Quantité de commande min : 1 Prix : Négociable
Détails d'emballage : Emballage pour expédition internationale Délai de livraison : 90-120 jours ouvrables
Conditions de paiement : T/T, Western Union Capacité d'approvisionnement : 100 PCS/90 à 120 jours
Lieu d'origine: Chine Nom de marque: JINSP
Certification: ISO9001 Numéro de modèle: Résultats de l'enquête
Document: Brochure du produit PDF

Détail Infomation

Plage spectrale: 200 nm à 1100 nm Les pixels efficaces: 1024*122
L'efficacité de Qutuam: QE92% pic à 650 nm, 83% à 232 nm RNN: 1000:1

Description de produit

Spectromètre Quantique Haute Performance à 92% pour Mesure de l'Épaisseur de Film

Dans les secteurs dépendant des revêtements en couches minces, des données précises sur l'épaisseur garantissent une fonctionnalité optimale du produit. Les systèmes de mesure photoélectriques offrent l'équilibre parfait entre rapidité et sécurité. Lorsqu'elles sont améliorées avec des algorithmes prédictifs, ces technologies permettent aux fabricants d'atteindre de nouveaux standards d'efficacité et d'innovation.

 

Le spectromètre JINSP SR100Q est intégré au Hamamatsu S7031, une puce CCD à réseau de surface refroidie par effet Peltier de qualité scientifique. Avec une taille de pixel allant jusqu'à 24*24μm et une excellente efficacité quantique allant jusqu'à 92%, il assure une réponse élevée dans la bande ultraviolette et améliore efficacement la sensibilité et le rapport signal/bruit (SNR) des signaux faibles. De plus, il peut réaliser d'excellents signaux spectraux, ainsi que des performances stables et fiables basées sur un trajet optique avancé à haute résolution et une puce de traitement de signal FPGA à faible bruit et à haute vitesse.

 

Paramètres du Produit :

Détecteur Type de puce Hamamatsu S7031 rétro-éclairé refroidi par effet Peltier
Pixels effectifs 1024*122
Taille des pixels 24*24μm
Surface sensible 24.576*2.928mm
Optique
Paramètres
Conception optique Type croisé F/4
Ouverture numérique 0.13
Distance focale 100mm
Largeur de la fente d'entrée 10μm,25μm,50μm,100μm,200μm
(personnalisable)
Interface fibre SMA905, espace libre
Électrique
Paramètres
Temps d'intégration 8ms-3600s
Interface de sortie de données USB3.0, RS232, RS485, connecteur 20 broches
Profondeur de bits ADC 16 bits
Alimentation 5V
Courant de fonctionnement <3.5A
Physique
Paramètres
Température de fonctionnement 10℃~40℃
Température de stockage -20℃~60℃
Humidité de fonctionnement <90%HR (sans condensation)
Dimensions 180mm*120mm*50mm
Poids 1.2kg

 

Liste des modèles de produits :

Modèle Plage spectrale (nm) Résolution (nm) Fente (μm)
SR100Q-G21

SR100Q-G22
200~950

350~1100
6.8 200
2.2 50
1.5 25
1.0 10
SR100Q-G23

SR100Q-G24
200~775

350~925
1.6 50
1.0 25
0.7 10
SR100Q-G25 532~690(4400cm-1*)* 13cm-1 50
SR100Q-G26 638~800(3200cm-1)* 10cm-1 25
SR100Q-G27 785~1050(3200cm-1)* 11cm-1 50

Remarque : Les* sont principalement conçus pour les applications Raman, avec le Raman correspondant.

 

Caractéristiques techniques :

  • Haute efficacité quantique, 92% crête@650nm, 83%@232nm
  • SNR élevé : Bruit sombre ultra-faible avec un long temps d'intégration, le SNR est aussi élevé que 1000:1
  • Traitement clair sans bruit des signaux faibles en longue exposition, forte adaptation à l'environnement
  • Circuit à faible bruit et à haute vitesse : USB3.0

 

Méthode de mesure :

Le système utilise une fibre optique pour projeter la lumière sur le film, créant des réflexions à ses limites supérieure et inférieure. Le spectre d'interférence résultant, acquis par le spectromètre, facilite le calcul de l'épaisseur (d) via la méthode des extrêmes (incorporant θ, n et les pics/creux spectraux). La fréquence des franges augmente avec l'épaisseur mais diminue avec la longueur d'onde. Des lectures précises dépendent de l'optimisation des paramètres spectraux.

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Applications typiques :

  • Détecter l'absorption, la transmittance et le spectre de réflexion
  • Caractérisation de la source lumineuse et de la longueur d'onde laser
  • Module de produit OEM : Spectre de fluorescence, spectre Raman, etc.

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Présentation de l'entreprise :

JINSP Company Limited, abrégé en "JINSP", est un fournisseur professionnel avec plus de 17 ans d'expérience dans les produits de technologie de détection spectrale, y compris les technologies Raman, FT-IR, LIBS, etc. Après 17 ans d'accumulation technologique, les technologies clés de base de l'entreprise ont atteint la position de leader international au niveau, et le nombre cumulé de demandes de brevets a dépassé 200.

 

En plus de son siège principal situé dans la ville animée de Pékin, JINSP a établi une usine de fabrication filiale à part entière située dans la province du Jiangsu, en Chine.

 

JINSP Company a reçu les certifications ISO9001:2015, ISO14001:2015 et ISO45001:2018. JINSP peut fournir les certifications requises, telles que la certification par le ministère de la Sécurité publique ou l'Institut national de métrologie, la certification de niveau environnemental, la certification de niveau IP, la certification CE, le rapport d'identification du transport, la certification EU ECAC, les tests de sécurité ICT allemands, etc..

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FAQ

Q1 : C'est la première fois que j'utilise, est-ce facile à utiliser ?

A1 : Nous vous enverrons un manuel et une vidéo de guide en anglais, qui peuvent vous apprendre à utiliser le spectromètre. De plus, nos techniciens proposeront des réunions d'opération technique professionnelle.

 

Q2 : Pouvez-vous proposer une formation à l'utilisation ?
A2 : Vos techniciens peuvent venir dans notre usine pour une formation. Les ingénieurs de Jinsp peuvent se rendre chez vous pour une assistance locale
(installation, formation, débogage, maintenance).

 

Q3 : Quel est votre site web ?
A3 : Vous pouvez visiter : www.jinsptech.com

 

Q4 : Qu'en est-il de votre assurance qualité ?

A4 : Nous avons une équipe d'inspection de la qualité. Toutes les marchandises passeront par une inspection de la qualité avant l'expédition. Nous pouvons vous envoyer des photos pour inspection.

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